[发明专利]电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备在审
| 申请号： | 202110960485.9 | 申请日： | 2021-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN113781406A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 赵玥;罗军;王小强;吕宏峰;夏皓 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/90;G06T5/00;G06T5/40 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐敏 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待检测的电子元器件图像；对电子元器件图像进行分块，得到多个电子元器件图像块；根据每个电子元器件图像块的像素灰度值，确定每个电子元器件图像块的局部阈值；根据所获取的多个局部阈值，确定电子元器件图像的分割阈值；比较每个电子元器件图像块的像素灰度值与分割阈值，根据所得到的比较结果确定电子元器件图像中的划痕区域。采用本方法能够提高在电子元器件图像对比度低时分割划痕区域的准确率，从而提高划痕识别的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 划痕 检测 方法 装置 计算机 设备 | ||
【主权项】：
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