[发明专利]电子元器件的划痕检测方法、装置及计算机设备

权利要求书

1.一种电子元器件的划痕检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测的电子元器件图像；

对所述电子元器件图像进行分块，得到多个电子元器件图像块；

根据每个所述电子元器件图像块的像素灰度值，确定每个所述电子元器件图像块的局部阈值；

根据所获取的多个所述局部阈值，确定所述电子元器件图像的分割阈值；

比较每个所述电子元器件图像块的所述像素灰度值与所述分割阈值，根据所得到的比较结果确定所述电子元器件图像中的划痕区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测的电子元器件图像，包括：

获取原始图像；

获取所述原始图像在多个颜色通道上颜色分量的加权和，根据所述加权和生成所述原始图像的灰度图像；

根据所述灰度图像的像素灰度级得到局部直方图，根据所述局部直方图对所述灰度图像进行增强处理，得到增强后的所述灰度图像；

对增强后的所述灰度图像进行滤波降噪处理，得到降噪后的所述灰度图像；

从降噪后的所述灰度图像中提取待检测的电子元器件所在位置的区域，得到所述电子元器件图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从降噪后的所述灰度图像中提取待检测的电子元器件所在位置的区域，得到所述电子元器件图像，包括：

获取所述电子元器件的角点信息，以及所述电子元器件的外边界信息；

根据所述角点信息和所述外边界信息，确定所述电子元器件的多个顶点位置；

获取多个所述顶点位置形成的区域，作为所述电子元器件所在位置的区域；

提取所述电子元器件所在位置的区域，得到所述电子元器件图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述电子元器件的角点信息，包括：

对于降噪后的所述灰度图像中的每个像素点，以每个所述像素点为中心生成与每个所述像素点对应的窗口，获取存在于所述窗口内的像素点的第一像素灰度值；

向预设方向移动所述窗口，获取存在于移动后的所述窗口内的像素点的第二像素灰度值；

根据所述第一像素灰度值以及所述第二像素灰度值，确定所述电子元器件的所述角点信息。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，获取所述电子元器件的外边界信息，包括：

获取所述电子元器件外边界上多个像素点的位置信息；

根据存在于所述外边界上的像素点的位置信息，确定对应的参数空间内的直线信息；

根据所述直线信息确定所述电子元器件的外边界信息。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每个所述电子元器件图像块的像素灰度值的数量包括多个；

所述根据每个所述电子元器件图像块的像素灰度值，确定每个所述电子元器件图像块的局部阈值，包括：

根据每个所述电子元器件图像块中属于每个所述像素灰度值的像素点数量，确定每个所述像素灰度值的概率；

根据每个所述像素灰度值的概率，确定每个所述电子元器件图像块的目标阈值；

根据所述目标阈值在所述像素灰度值范围内的取值结果，确定每个所述电子元器件图像块的所述局部阈值。

7.根据权利要求1中所述的方法，其特征在于，所述比较每个所述电子元器件图像块的所述像素灰度值与所述分割阈值，根据所得到的比较结果确定所述电子元器件图像中的划痕区域，包括：

获取每个所述电子元器件图像块中所述像素灰度值大于所述分割阈值的区域，作为所述电子元器件图像的所述划痕区域。

8.根据权利要求1～7任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所得到的比较结果确定所述电子元器件图像中的划痕区域之后，还包括：

采用对称结构图像对所述电子元器件图像进行卷积处理，消除所述电子元器件图像中的目标区域，得到初始划痕图像，所述目标区域包括空洞区域；

改变所述初始划痕图像中划痕区域的显示状态，得到目标划痕图像。