[发明专利]一种基于氮化镓微米线高电子迁移率晶体管阵列及制备方法在审

专利信息
申请号: 202110920133.0 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN113809152A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 李京波;孙一鸣;王小周 申请(专利权)人: 浙江芯国半导体有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/20;H01L21/335;H01L29/778;H01L27/085
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 李园园
地址: 311421 浙江省杭州市富*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于氮化镓微米线高电子迁移率晶体管阵列及制备方法,该阵列包括:衬底,所述衬底为单面抛光硅片;二氧化硅绝缘层,间隔形成在所述衬底上,以使未覆盖所述二氧化硅绝缘层的衬底上形成若干条状凹槽;多条微米线,设置在每个所述条状凹槽内;电极结构,设置在所述多条微米线和所述二氧化硅绝缘层上方且与所述条状凹槽方向垂直,所述电极结构包括依次平行设置的漏电极、栅电极和源电极;其中,所述微米线为梯形结构,依次包括AIN成核层、GaN缓冲层和AlGaN势垒层。本发明具有生长工艺简单、无引入刻蚀、成本较低、工艺重复性和一致性高等优点,同时GaN微米线可充分利用自身的优点,使得一维材料走向实用器件,具有巨大的潜力。
搜索关键词: 一种 基于 氮化 微米 电子 迁移率 晶体管 阵列 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江芯国半导体有限公司,未经浙江芯国半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110920133.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top