[发明专利]一种微型芯片外观缺陷的智能识别方法有效
| 申请号： | 202110880257.0 | 申请日： | 2021-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN113567466B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 严华荣;胡凯;游胜雄 | 申请（专利权）人： | 大量科技（涟水）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司： | 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙) 32411 | 代理人： | 伍兵 |
| 地址： | 223001 江苏省淮安*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片检测技术领域，具体公开了一种微型芯片外观缺陷的智能识别方法，通过芯片定位，利用CCD相机组对芯片进行检测；实施缺陷样本均衡处理；进行大封装芯片缺陷样本的知识迁移。主要用于解决微型芯片外观缺陷检测的检测精度较差的问题，能够自动化把抓取出算法部分判断为有缺陷的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微型 芯片 外观 缺陷 智能 识别 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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