[发明专利]芯片测试方法、装置、芯片及存储介质在审
| 申请号： | 202110851074.6 | 申请日： | 2021-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN113641541A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 李晨;肖珂;布恩辉;李健强 | 申请（专利权）人： | 西安芯海微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 | 代理人： | 苗燕 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新区*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片测试方法、装置、芯片及存储介质，该芯片测试方法应用于芯片，该芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，该芯片测试方法包括获取第一验证信息；若基于第一验证信息控制存储体的读写权限处于开启状态，则通过存储体向测试单元发送测试使能信号；根据测试使能信号控制芯片进入测试状态。通过本实施例的实施，实现了通过存储体控制测试单元进入测试状态，由于芯片中的存储体与测试单元相互电连接，因此无需在芯片外部延伸出用于使测试单元进入测试状态的引脚，从而减少了应用了本实施例提供的芯片测试方法的芯片所需要的外设的引脚，降低了生产芯片的成本，同时便于减小电子产品体积，降低了产品推广难度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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