[发明专利]芯片测试方法、装置、芯片及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种芯片测试方法、装置、芯片及存储介质，该芯片测试方法应用于芯片，该芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，该芯片测试方法包括获取第一验证信息；若基于第一验证信息控制存储体的读写权限处于开启状态，则通过存储体向测试单元发送测试使能信号；根据测试使能信号控制芯片进入测试状态。通过本实施例的实施，实现了通过存储体控制测试单元进入测试状态，由于芯片中的存储体与测试单元相互电连接，因此无需在芯片外部延伸出用于使测试单元进入测试状态的引脚，从而减少了应用了本实施例提供的芯片测试方法的芯片所需要的外设的引脚，降低了生产芯片的成本，同时便于减小电子产品体积，降低了产品推广难度。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试方法、装置、芯片及存储介质。

背景技术

近些年来，随着科学技术的不断发展，电子产品的应用越来越广泛，芯片作为电子产品的重要组成部分，在市场上得到了空前的关注。为确保芯片的功能满足设计需求，通常会在芯片应用于电子产品之前加入测试工序，以对芯片的功能进行验证，从而有效减少电子产品实际应用时产生的缺陷。在现有技术中，为了满足芯片的测试需求，通常需要在芯片中的各个模块(例如处理器、存储器、测试单元等)分别设置专门的测试引脚，外部的测试机器通过连接该引脚后对芯片进行测试。虽然现有技术中的测试方法能够满足测试需求，但是，采用该种测试方法导致芯片中的引脚过多，使得生产该芯片的成本较高，同时不利于减小电子产品体积，在市场上电子产品趋近于小型化的情况下，也不利于产品推广。

发明内容

本申请实施例的目的在于提出一种芯片测试方法、装置、芯片及存储介质，以解决上述问题。本申请实施例通过以下技术方案来实现上述目的。

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试方法，该芯片测试方法应用于芯片，该芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，该芯片测试方法包括：获取第一验证信息；若基于第一验证信息控制存储体的读写权限处于开启状态，则通过存储体向测试单元发送测试使能信号；根据测试使能信号控制芯片进入测试状态。

第二方面，本申请实施例提供了一种芯片测试装置，该芯片测试装置应用于芯片，该芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，该芯片测试装置包括第一验证信息获取模块、测试使能信号发送模块和测试模块。其中，第一验证信息获取模块用于获取第一验证信息。测试使能信号发送模块用于若基于第一验证信息控制存储体的读写权限处于开启状态，则通过存储体向测试单元发送测试使能信号。测试模块用于根据测试使能信号控制芯片进入测试状态

第三方面，本申请实施例提供了一种芯片，该芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，该芯片还包括：一个或多个处理器；一个或多个程序，其中一个或多个程序被存储在存储器中并被配置为由一个或多个处理器执行，一个或多个程序配置用于执行上述芯片测试方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序可被处理器调用执行上述芯片测试方法的步骤。

相对于现有技术，在本实施例提供的芯片测试方法、装置、芯片及存储介质中，能够通过存储体获取第一验证信息，基于第一验证信息控制存储体的读写权限开启，并向测试单元发送测试使能信号，以使测试单元能够进入测试状态，在测试单元测试时，测试单元还可以读写存储体中的数据，实现了通过存储体控制测试单元进入测试状态，由于芯片中的存储体与测试单元相互电连接，因此无需在芯片外部延伸出用于使测试单元进入测试状态的引脚，从而减少了应用了本实施例提供的芯片测试方法的芯片所需要的外设的引脚，降低了生产芯片的成本，同时便于减小电子产品体积，在市场上电子产品趋近于小型化的情况下，也有利于产品推广。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。