[发明专利]芯片测试方法、装置、芯片及存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，所述芯片测试方法包括：

获取第一验证信息；

若基于所述第一验证信息控制所述存储体的读写权限处于开启状态，则通过所述存储体向所述测试单元发送测试使能信号；以及

根据所述测试使能信号控制所述芯片进入测试状态。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述基于所述第一验证信息控制所述存储体的读写权限处于开启状态包括：

将所述第一验证信息与第一预设验证信息进行匹配；

若所述第一验证信息与所述第一预设验证信息匹配成功，则开启所述存储体的读写权限。

3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述测试使能信号控制所述芯片进入测试状态包括：

从所述测试使能信号中获取模式选择信号；

根据所述模式选择信号与测试模式之间的对应关系，确定目标测试模式；

按照所述目标测试模式对所述芯片进行测试。

4.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片还包括设置于所述测试单元的至少一复用管脚；所述芯片测试方法还包括：

获取经由所述复用管脚输入的模式选择信号；

确定与所述模式选择信号对应的目标测试模式；

按照所述目标测试模式对所述芯片进行测试。

5.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，所述按照所述目标测试模式对所述芯片进行测试包括：

根据所述目标测试模式配置所述复用管脚的功能，并通过配置后的复用管脚对所述芯片进行测试。

6.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，所述复用管脚为多个，所述模式选择信号包括经由多个所述复用管脚输入的高低电平信息；所述确定与所述模式选择信号对应的目标测试模式包括：

根据所述高低电平信息与测试模式之间预设的对应关系，确定所述目标测试模式。

7.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，所述复用管脚为多个，所述模式选择信号包括时钟信号和模式选择信号；所述获取经由所述复用管脚输入的模式选择信号包括：

获取经由所述一复用管脚输入的时钟信号；

若所述时钟信号中的时钟信息符合预设的时钟条件，则获取经由所述剩余复用管脚输入的模式选择信号。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

若完成所述芯片的测试，则关闭所述芯片进行测试时所需的所述存储体的读写权限，以使所述芯片退出所述测试状态。

9.根据权利要求8所述的芯片测试方法，其特征在于，所述关闭所述芯片进行测试时所需的所述存储体的读写权限，以使所述芯片退出测试状态包括：

获取第二验证信息，所述第二验证信息用于关闭所述芯片进行测试时所需的存储体的读写权限；

将所述第二验证信息与所述第二预设验证信息进行匹配；

若所述第二验证信息与所述第二预设验证信息匹配成功，则关闭在所述芯片进行测试时所需的所述存储体的读写权限，以使所述芯片退出所述测试状态。

10.根据权利要求8所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

熔断所述存储体中用于向所述测试单元发送测试使能信号的控制位，以禁止所述芯片进入测试状态。

11.一种芯片测试装置，其特征在于，应用于芯片，所述芯片包括相互电连接的存储体和测试单元，所述芯片测试装置包括：

第一验证信息获取模块，用于获取第一验证信息；

测试使能信号发送模块，用于若基于所述第一验证信息控制所述存储体的读写权限处于开启状态，则通过所述存储体向所述测试单元发送测试使能信号；

测试模块，用于根据所述测试使能信号控制所述芯片进入测试状态。