[发明专利]IC芯片分选检测辅助系统在审
| 申请号： | 202110842430.8 | 申请日： | 2021-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN113560202A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 魏强;郑朝生;袁俊;郑挺;辜诗涛 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/344 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;赵贯杰 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IC芯片分选检测辅助系统，包括用于对重力式分选机的不同检测档位进行调节的辅助切换系统，分选机中的IC芯片放置架上间隔设置有若干对位置传感器，每一检测档位选择使用其中若干位置传感器，辅助切换系统包括控制器和与电子切换开关，电子切换开关分别与若干分别属于不同检测档位的位置传感器电性连接，控制器用于根据当前进入分选机的IC芯片的类型控制电子切换开关的动作；通过本发明IC芯片分选检测辅助系统，当待测IC芯片的批次发生变化时，可自动切换所选择使用的位置传感器，从而自动切换检测档位，中途无须停机调节，有效提高了工作效率，而且可有效避免工作人员忘记调节检测档位的现象发生。 | ||
| 搜索关键词： | ic 芯片 分选 检测 辅助 系统 | ||
【主权项】：
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