[发明专利]IC芯片分选检测辅助系统

说明书

本发明公开了一种IC芯片分选检测辅助系统，包括用于对重力式分选机的不同检测档位进行调节的辅助切换系统，分选机中的IC芯片放置架上间隔设置有若干对位置传感器，每一检测档位选择使用其中若干位置传感器，辅助切换系统包括控制器和与电子切换开关，电子切换开关分别与若干分别属于不同检测档位的位置传感器电性连接，控制器用于根据当前进入分选机的IC芯片的类型控制电子切换开关的动作；通过本发明IC芯片分选检测辅助系统，当待测IC芯片的批次发生变化时，可自动切换所选择使用的位置传感器，从而自动切换检测档位，中途无须停机调节，有效提高了工作效率，而且可有效避免工作人员忘记调节检测档位的现象发生。

技术领域

本发明涉及IC芯片分选检测技术领域，尤其涉及一种用于IC芯片分选检测机的IC芯片分选检测辅助系统。

背景技术

IC芯片封装完成后，进入测试工序，完成对IC芯片的电性测试。测试分Tray盘来料方式和料管来料方式。料管来料方式是使用重力式分选机搭配测试机进行测试，在使用重力式分选机对IC芯片进行测试时，IC芯片靠自身重力从料管中落入放置架中，对于每个检测工位来说，一次要求只能有一个待测IC芯片，因此，现在一般在放置架中还设置有重料识别装置。然而，对于不同批次的IC芯片来说，由于其管脚数和基体的尺寸不同，因此，一般重料识别装置设置有多个分别与不同类型的IC芯片对应的检测档位，当待测IC芯片的类型发生变化时，需要先停止当前的检测工作，手动调节重料识别装置的档位，调节完毕后才能开始下一批次的检测工作，这不仅限制了IC芯片检测工作效率的提高，而且当工作人员忘记调节重料识别装置的档位时，会造成重料无法识别，影响检测质量，当发现重料识别装置的档位错误时还要返工，浪费工时。

发明内容

本发明的目的是为解决上述技术问题的不足而提供一种可根据当前待检测IC芯片的类型自动调节检测档位以确保对重料准确识别并提高工作效率的IC芯片分选检测辅助系统。

为了实现上述目的，本发明公开了一种IC芯片分选检测辅助系统，包括用于对重力式分选机的不同检测档位进行调节的辅助切换系统，所述分选机中的IC芯片放置架上间隔设置有若干对位置传感器，所述位置传感器用于检测IC芯片到位与否，每一所述检测档位选择使用其中若干所述位置传感器，所述辅助切换系统包括控制器和与所述控制器电性连接的电子切换开关，所述电子切换开关分别与若干分别属于不同所述检测档位的所述位置传感器电性连接，所述控制器用于根据当前进入分选机的IC芯片的类型控制所述电子切换开关的动作，以使得所述电子切换开关自动切换所选择使用的所述位置传感器。

较佳的，所述位置传感器包括与检测位正中心对应的一常态传感器和与所述常态传感器依次间隔设置的两可选传感器，所述电子切换开关分别与两所述可选传感器电性连接，以选择其中一所述可选择传感器进入检测工作状态。

较佳的，所述位置传感器包括光电开关。

较佳的，所述电子切换开关包括多触头继电器。

较佳的，所述控制器与装载有待测IC芯片的资料的服务器通信连接，以从所述服务器中自动获取当前所要分选的IC芯片的资料。

较佳的，所述位置传感器的输出端电性连接在一电压比较器的同相输入端，所述电压比较器的反向输入端还通过以滑动变阻器电性连接有一比较电压源。