[发明专利]电子元件检测方法及设备在审
| 申请号: | 202110815258.7 | 申请日: | 2021-07-19 |
| 公开(公告)号: | CN114371352A | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
| 发明(设计)人: | 卢昱呈;林铭展;林冠龙 | 申请(专利权)人: | 万润科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/02 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 闻卿 |
| 地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明提供一种电子元件检测方法及设备,包括:使一温控装置控制一检测室内的温度保持在一预设温度;使电子元件由一供给机构经一震动送料机构输送至一载盘的载槽中,并受该载盘以间歇性旋转流路搬送至一检测机构进行检测,皆在该检测室内的该预设温度下被执行;借此减少检测结果失准。 | ||
| 搜索关键词: | 电子元件 检测 方法 设备 | ||
【主权项】:
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