[发明专利]电子元件检测方法及设备

说明书

本发明提供一种电子元件检测方法及设备，包括：使一温控装置控制一检测室内的温度保持在一预设温度；使电子元件由一供给机构经一震动送料机构输送至一载盘的载槽中，并受该载盘以间歇性旋转流路搬送至一检测机构进行检测，皆在该检测室内的该预设温度下被执行；借此减少检测结果失准。

技术领域

本发明有关于一种检测方法及设备，尤指一种以搬送装置之间歇性旋转流路搬送电子元件至检测装置进行检测的电子元件检测方法及设备。

背景技术

一般例如LED或被动元件的电子元件在制造完成后，通常需要进行检测以利后续依其特性进行分选，这些用以进行检测的设备，常在一基座上设置一周缘环列布设等间距的载槽的载盘，电子元件被收容于所述载槽内并受该载盘以间歇旋转流路搬送，该载盘周缘设置各种物理特性检测仪器以对所述载槽内的电子元件进行检测；对于一些在特殊温度环境下需具有良好温度特性的电子元件，例如热敏电阻，现有技术采取在该基座上设置一罩盖罩覆在该载盘与该检测仪器上方，使该载盘与该检测仪器位于该基座与该罩盖所形成的内部空间中，并对该内部空间注入预设温度的气体，以令该罩盖内保持与该罩盖外不同的温度；在进行检测时，该罩盖外的一供料机构依序将电子元件供给至该罩盖内的该载盘，使电子元件在预设温度下被检测。

发明内容

现有技术采用设置罩盖覆盖方式来进行在特殊温度环境下需具有良好温度特性的电子元件的检测，其设置的罩盖外与罩盖内将会具有温度的差异，导致电子元件由罩盖外的供料机构被供给至罩盖内后，会因温差造成例如湿气产生、元件温度尚未达到预设温度前就被检测…等不期望的情况，以上不期望的情况都可能导致检测结果失准。

因此，本发明的目的在于提供一种可减少检测结果失准的电子元件检测方法。

本发明的另一目的在于提供一种可减少检测结果失准的电子元件检测设备。

本发明的又一目的在于提供一种用以执行如所述电子元件检测方法的设备。

依据本发明目的的电子元件检测方法，包括：使一温控装置控制一检测室内的温度保持在一预设温度；使电子元件由一供给机构经一震动送料机构输送至一载盘的载槽中，并受该载盘以间歇性旋转流路搬送至一检测机构进行检测，皆在该检测室内的该预设温度下被执行。

依据本发明另一目的的电子元件检测设备，包括：一检测室；一温控装置，控制该检测室内的温度；一供给装置，设于该检测室内，该供给装置设有一供给机构与一震动送料机构；一搬送装置，设于该检测室内，该搬送装置设有一载盘与一载盘驱动机构；一检测装置，设于该检测室内，该检测装置设有一检测机构。

依据本发明又一目的的电子元件检测设备，包括：用以执行如所述电子元件检测方法的设备。

本发明实施例的电子元件检测方法及设备，电子元件在各个机构间被输送的过程中，皆可保持在相同的预设温度，减少了温差所造成的湿气且元件温度可更趋近于预设温度，借此减少检测结果失准。

附图说明

图1是本发明实施例中检测设备的立体示意图。

图2是本发明实施例中图1之前视示意图。

图3是本发明实施例中载盘与检测机构的示意图。

图4是本发明实施例中供给机构与震动送料机构配置关系的示意图。

图5是本发明实施例中载盘驱动机构、搬送台面与载盘配置关系的示意图。

图6是本发明实施例中载盘驱动机构的立体分解示意图。

图7是本发明实施例中载盘驱动机构不与搬送台面接触的示意图。

图8是本发明实施例中检测机构的示立体意图。

图9是本发明实施例中收集盒、收料管与气流放大器配置关系的示意图。