[发明专利]电子元件检测方法及设备

权利要求书

1.一种电子元件检测方法，包括：

使一温控装置控制一检测室内的温度保持在一预设温度；

使电子元件由一供给机构经一震动送料机构输送至一载盘的载槽中，并受该载盘以间歇性旋转流路搬送至一检测机构进行检测，皆在该检测室内的该预设温度下被执行。

2.如权利要求1所述的电子元件检测方法，其中，该温控装置设有一第一温控机构控制该检测室内的温度保持在一第一温度。

3.如权利要求2所述的电子元件检测方法，其中，该载盘设于一搬送台面上并受一载盘驱动机构驱动；该温控装置设有一第二温控机构控制该搬送台面的温度保持在一第二温度。

4.如权利要求3所述的电子元件检测方法，其中，该温控装置设有一第三温控机构控制该检测机构保持在一第三温度；该温控装置设有一第四温控机构控制该驱动机构的温度保持在一第四温度；该第一温度、该第二温度、该第三温度与该第四温度皆相同并低于该检测室外的温度。

5.一种电子元件检测设备，包括：

一检测室；

一温控装置，控制该检测室内的温度；

一供给装置，设于该检测室内，该供给装置设有一供给机构与一震动送料机构；

一搬送装置，设于该检测室内，该搬送装置设有一载盘与一载盘驱动机构；

一检测装置，设于该检测室内，该检测装置设有一检测机构。

6.如权利要求5所述的电子元件检测设备，其中，该检测室形成于一机台台面与一机台罩壳之间；该搬送装置设有一架高于该机台台面的上的搬送台面，该载盘设于该搬送台面上，该载盘的周缘布设有多个载槽可承载电子元件。

7.如权利要求6所述的电子元件检测设备，其中，该搬送台面设有一镂空区间，该载盘贴覆于该镂空区间的上方，一载盘驱动机构由该镂空区间的下方穿经该镂空区间与该载盘相连且该载盘驱动机构不与该搬送台面接触。

8.如权利要求6所述的电子元件检测设备，其中，该检测装置另设有一检测仪表于该搬送台面的旁侧，该检测仪表与该检测机构电性连结，以分析该检测机构检测后的信息。

9.如权利要求5所述的电子元件检测设备，其中，该检测室内设有一气体循环机构，该气体循环机构设有一致冷部、一吸气口与一排气口；该检测室内的气体自该吸气口吸入后经该致冷部冷却，再由该排气口排出至该检测室内。

10.一种电子元件检测设备，包括：用以执行如权利要求1至4中任一权利要求所述的电子元件检测方法的设备。