[发明专利]X射线密度像质计在审
| 申请号： | 202110748418.0 | 申请日： | 2021-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN113624786A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 陈刚;陈玥霖 | 申请（专利权）人： | 陈刚;陈玥霖 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/18;G01N9/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市梁溪区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种聚乙烯及非金属材质X射线无损检测领域用X射线密度像质计，包括密度像质计型号标记区、密度像质计标识块、密度像质计识别区；密度像质计型号标记区设置于密度像质计标识块上，密度像质计型号标记区上标记有密度像质计型号、标准号，密度像质计标识块固定于密度像质计识别区，密度像质计识别区是由多种阶梯状且密度不同的聚乙烯材质及非金属材质连接构成。本发明拓展了X射线检测领域的检测范围，将传统上X射线无损检测只能检测金属材质发展到聚乙烯及非金属材质的X射线无损检测领域，填补了X射线无损检测对聚乙烯及非金属材质领域X射线密度检测法的空白。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 密度 像质计 | ||
【主权项】：
暂无信息
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