[发明专利]X射线密度像质计

说明书

本发明涉及一种聚乙烯及非金属材质X射线无损检测领域用X射线密度像质计，包括密度像质计型号标记区、密度像质计标识块、密度像质计识别区；密度像质计型号标记区设置于密度像质计标识块上，密度像质计型号标记区上标记有密度像质计型号、标准号，密度像质计标识块固定于密度像质计识别区，密度像质计识别区是由多种阶梯状且密度不同的聚乙烯材质及非金属材质连接构成。本发明拓展了X射线检测领域的检测范围，将传统上X射线无损检测只能检测金属材质发展到聚乙烯及非金属材质的X射线无损检测领域，填补了X射线无损检测对聚乙烯及非金属材质领域X射线密度检测法的空白。

技术领域

本发明涉及一种聚乙烯材质及其它非金属材质的X射线无损检测领域，尤其涉及一种X射线密度像质计。

背景技术

X射线密度像质计，是工业无损检测评价X射线数字成像，包括X射线胶片、IP板等X射线影像对聚乙烯及非金属材质密度分辨力的装置，目前在工业X射线无损检测领域内，只有金属材质检测灵敏度指标用的各种类像质计，并没有出现过非金属材质密度检测用的X射线密度像质计等装置。

发明内容

本发明的目的在于克服上述不足，提供了一种聚乙烯及非金属材质X射线密度像质计结构，用于判定X射线装置对聚乙烯及其它非金属材质的密度分辨能力，是聚乙烯材质及其它非金属材质进行X射线数字成像、X射线胶片、IP板等X射线无损检测影像评价密度分辨能力的装置。X射线成像中物体不同组织结构的黑化(亮暗)程度称为影像灰度，灰度级差也视为密度差，是组成X射线影像的基本要素之一，X射线影像中灰度与密度呈对应关系。

本发明的目的是这样实现的：一种X射线密度像质计，所述密度像质计包括密度像质计型号标记区、密度像质计标识块、密度像质计识别区；所述密度像质计型号标记区设置于密度像质计标识块上；所述密度像质计型号标记区上标记有密度像质计型号、标准号；所述密度像质计标识块固定于密度像质计识别区；所述密度像质计识别区是由多种阶梯状且密度不同的聚乙烯材质及非金属材质连接构成。

本发明X射线密度像质计，所述密度像质计由密度像质计型号标记区、密度像质计标识块、密度像质计识别区等构成。

本发明X射线密度像质计，所述标记密度像质计型号为铅字。

本发明X射线密度像质计，所述密度像质计标识块为聚乙烯材质。

本发明X射线密度像质计，所述密度像质计识别区是多种阶梯状且不同密度的聚乙烯材质和非金属材质连接构成。

本发明的有益效果是：拓展了X射线检测领域的检测范围，将传统上X射线无损检测只能检测金属材质发展到聚乙烯及非金属材质的X射线无损检测领域，本发明填补了X射线无损检测对聚乙烯及非金属材质领域X射线密度检测法的空白。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步，所述密度像质计识别区是由多种阶梯状且不同密度的聚乙烯材质和非金属材质构成，在每个阶梯面上设置不同直径和深度的小孔，可同时检测X射线装置对密度和气孔的分辨能力。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明密度像质计的结构示意图。

图2为本发明密度像质计识别区构成示意图

附图中，各标号所代表的部件如下：

图1为X射线密度像质计；密度像质计型号标记区1.1；密度像质计标识块1.2；密度像质计识别区1.3。

具体实施方式