[发明专利]X射线密度像质计在审
申请号: | 202110748418.0 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN113624786A | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 陈刚;陈玥霖 | 申请(专利权)人: | 陈刚;陈玥霖 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/18;G01N9/24 |
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地址: | 214000 江苏省无锡市梁溪区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 密度 像质计 | ||
1.一种X射线密度像质计,其特征在于:所述X射线密度像质计包括密度像质计型号标记区(1.1)、密度像质计标识块(1.2)、密度像质计识别区(1.3);所述X射线密度像质计的形状为矩形;所述密度像质计标识块(1.2)及密度像质计识别区(1.3)的材质为聚乙烯和其它非金属材质。
2.如权利要求1所述一种X射线密度像质计,其特征在于:密度像质计型号标记区(1.1)设置于密度像质计标识块(1.2)上。
3.如权利要求1和2所述一种X射线密度像质计,其特征在于:密度像质计标识块(1.2)的形状为矩形,并固定于密度像质计识别区(1.3),所述密度像质计标识块(1.2)的材质为聚乙烯。
4.如权利要求1和3所述一种X射线密度像质计,其特征在于:密度像质计识别区(1.3)由多种阶梯状且不同密度的聚乙烯材质和非金属材质连接构成。
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