[发明专利]一种基于光纤阵列的激光光束质量测量装置在审
申请号: | 202110707972.4 | 申请日: | 2021-06-24 |
公开(公告)号: | CN113551878A | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
发明(设计)人: | 秦来安;侯再红;张巳龙;何枫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙) 34125 | 代理人: | 郭华俊 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于激光光束质量测量和光纤传光的技术领域,尤其涉及一种基于光纤阵列的激光光束质量测量装置,包括依次设置的稀疏排布孔板、光纤阵列组件、紧密排布孔板、光学镜片组件、CCD相机。本发明通过由疏到密分布的光纤阵列将大面积光斑整体等比缩小,使用CCD相机直接拍摄缩小后的光斑,从而消除CCD相机拍摄畸变的影响,增大系统可精准测量的光斑面积。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光纤 阵列 激光 光束 质量 测量 装置 | ||
【主权项】:
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