[发明专利]一种联合IG值和SAR反演高精度电子密度的方法有效
| 申请号： | 202110698415.0 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113433524B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 朱武;孙全;陈镜渊;张勤;李振洪;雷洋 | 申请（专利权）人： | 长安大学 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41 |
| 代理公司： | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人： | 李鹏 |
| 地址： | 710064 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种联合IG值和SAR反演高精度电子密度的方法，基于法拉第旋转角算法对获取的全极化SAR数据进行处理计算，获取图像范围内的SAR VTEC，将获取的SAR VTEC作为约束条件，IG值作为变量，使用拟合得到的IG‑VTEC拟合曲线函数，确定图像中每个点VTEC对应下的IG值，获取目标区域的IG值分布，随后将时间和经纬度以及计算得到的目标区域IG值作为输入，利用IRI模型获取电子密度剖线，最终获取整个研究区域的三维电子密度分布。由于使用了SAR数据获取的高空间分辨率VTEC，反演得到了精细化的三维电子密度的分布，在很大程度上提高应用中电波传播修正精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 联合 ig sar 反演 高精度 电子密度 方法 | ||
【主权项】：
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