[发明专利]测试系统、测试方法、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110622015.1 | 申请日： | 2021-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN113359331B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 陈弈星;胡健 | 申请（专利权）人： | 南京芯视元电子有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王思楠 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市江北*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测试系统、测试方法、电子设备及存储介质，涉及显示器技术领域。其中，准直扩束系统设于光源出射光的光路上，起偏器设于准直扩束系统准直后光的光路上；偏振分光棱镜设于起偏器偏振后光的光路上，硅基微显示模组设于偏振分光棱镜的反射路径上，偏振分光棱镜用于将偏振后的偏振光反射至硅基微显示模组，并将硅基微显示模组反射的偏振光透射至光功率计；硅基微显示模组与控制器通信连接，控制器用于向硅基微显示模组传输待测灰阶点对应的待测试灰阶图像和校正参数，实现了可以通过校正参数对硅基微显示模组中待测灰阶点对应的初始驱动电压进行校正，可以提高硅基微显示模组的显示特性，进而在显示图像时，可以减少图像失真。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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