[发明专利]测试系统、测试方法、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种测试系统、测试方法、电子设备及存储介质，涉及显示器技术领域。其中，准直扩束系统设于光源出射光的光路上，起偏器设于准直扩束系统准直后光的光路上；偏振分光棱镜设于起偏器偏振后光的光路上，硅基微显示模组设于偏振分光棱镜的反射路径上，偏振分光棱镜用于将偏振后的偏振光反射至硅基微显示模组，并将硅基微显示模组反射的偏振光透射至光功率计；硅基微显示模组与控制器通信连接，控制器用于向硅基微显示模组传输待测灰阶点对应的待测试灰阶图像和校正参数，实现了可以通过校正参数对硅基微显示模组中待测灰阶点对应的初始驱动电压进行校正，可以提高硅基微显示模组的显示特性，进而在显示图像时，可以减少图像失真。

技术领域

本申请涉及显示器技术领域，特别涉及一种测试系统、测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术

硅基液晶(Liquid Crystal on Silicon，LCoS)是一种反射式液晶显示技术，基于LCoS技术发展的硅基微显示器，主要的制备工艺是在硅片上，利用半导体制程制作驱动面板，形成CMOS基板，然后在基底上制作液晶显示屏；CMOS基板中，每个显示器的像素电路由若干个金属氧化物半导体场效应晶体管(Metallic Oxide Semiconductor Field EffectTransistor，MOSFET)和若干个电容组成。

现有的通过硅基微显示器显示图像时，由于液晶板固有的电光非线性特性会导致显示图像还原性差，因此，一般需要通过伽马校正电路对显示图像进行伽马校正，以得到更好的图像显示结果。

但由于现有的伽马校正电路的校正能力有限，因此，现有的硅基微显示器显示图像时仍然存在较为严重的图像失真问题。

发明内容

本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种测试系统、测试方法、电子设备及存储介质，可以提高硅基微显示器的显示特性，减少图像失真。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明提供一种测试系统，应用于硅基微显示模组，所述硅基微显示模组包括：硅基微显示芯片和芯片驱动电路，所述测试系统包括：光源、准直扩束系统、起偏器、偏振分光棱镜、控制器以及光功率计，所述光功率计与控制器通信连接；

其中，所述准直扩束系统设于所述光源出射光的光路上，所述起偏器设于所述准直扩束系统准直后光的光路上；

所述偏振分光棱镜设于所述起偏器偏振后光的光路上，所述硅基微显示模组设于所述偏振分光棱镜的反射路径上，所述偏振分光棱镜用于将偏振后的偏振光反射至所述硅基微显示模组，并将所述硅基微显示模组反射的所述偏振光透射至所述光功率计；

所述硅基微显示模组与所述控制器通信连接，所述控制器用于向所述硅基微显示模组传输待测灰阶点对应的待测试灰阶图像和校正参数，以使所述芯片驱动电路根据所述校正参数对所述待测灰阶点对应的初始驱动电压进行校正。

在可选的实施方式中，还包括：相位延迟片，所述相位延迟片设于所述偏振分光棱镜的反射路径上，并设于所述偏振分光棱镜和所述硅基微显示模组之间。

在可选的实施方式中，还包括：检偏器，所述硅基微显示模组反射的偏振光透射至所述检偏器，并经所述检偏器传输至所述光功率计。

第二方面，本发明提供一种测试方法，应用于前述实施方式任一项所述测试系统中的控制器，所述测试方法包括：

加载待测灰阶点对应的待测试灰阶图像，并向所述硅基微显示模组传输所述待测试灰阶图像；

通过所述光功率计，探测获取所述待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的测试反射率参数；

根据所述待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的测试反射率参数和预设理想反射率参数，生成校正参数；