[发明专利]测试系统、测试方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测试系统，其特征在于，应用于硅基微显示模组，所述硅基微显示模组包括：硅基微显示芯片和芯片驱动电路，所述测试系统包括：光源、准直扩束系统、起偏器、偏振分光棱镜、控制器以及光功率计，所述光功率计与控制器通信连接；

其中，所述准直扩束系统设于所述光源出射光的光路上，所述起偏器设于所述准直扩束系统准直后光的光路上；

所述偏振分光棱镜设于所述起偏器偏振后光的光路上，所述硅基微显示模组设于所述偏振分光棱镜的反射路径上，所述偏振分光棱镜用于将偏振后的偏振光反射至所述硅基微显示模组，并将所述硅基微显示模组反射的所述偏振光透射至所述光功率计，以通过所述光功率计，探测获取待测灰阶点对应的待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的测试反射率参数；

所述硅基微显示模组与所述控制器通信连接，所述控制器用于向所述硅基微显示模组传输待测灰阶点对应的待测试灰阶图像和校正参数，以使所述芯片驱动电路根据所述校正参数对所述待测灰阶点对应的初始驱动电压进行校正，所述校正参数由所述控制器根据所述待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的测试反射率参数和预设理想反射率参数生成；

所述测试系统还包括：相位延迟片，所述相位延迟片设于所述偏振分光棱镜的反射路径上，并设于所述偏振分光棱镜和所述硅基微显示模组之间。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括：检偏器，所述硅基微显示模组反射的偏振光透射至所述检偏器，并经所述检偏器传输至所述光功率计。

3.一种测试方法，其特征在于，应用于权利要求1或2所述测试系统中的控制器，所述测试方法包括：

加载待测灰阶点对应的待测试灰阶图像，并向所述硅基微显示模组传输所述待测试灰阶图像；

通过所述光功率计，探测获取所述待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的测试反射率参数；

根据所述待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的测试反射率参数和预设理想反射率参数，生成校正参数；

向所述硅基微显示模组发送所述校正参数，以使所述芯片驱动电路根据所述校正参数对所述待测灰阶点对应的初始驱动电压进行校正。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试灰阶图像下所述硅基微显示模组对应的反射率参数和预设理想反射率参数，生成校正参数，包括：

分别对所述测试反射率参数、所述预设理想反射率参数进行归一化处理；

根据归一化后的所述测试反射率参数、归一化后的所述预设理想反射率参数以及灰阶点与初始驱动电压之间的初始映射关系，计算生成校正参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据归一化后的所述测试反射率参数、归一化后的所述预设理想反射率参数以及灰阶点与初始驱动电压之间的初始映射关系，计算生成校正参数，包括：

根据归一化后的所述测试反射率参数、灰阶点与初始驱动电压之间的初始映射关系，获取归一化后的所述测试反射率参数与初始驱动电压之间的测试映射关系；

根据所述测试映射关系和归一化后的所述预设理想反射率参数，计算获取所述待测试灰阶图像对应的理想驱动电压；

根据所述待测试灰阶图像的初始驱动电压和待测试灰阶图像对应的理想驱动电压，计算获取校正电压。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述对所述测试反射率参数进行归一化处理，包括：

分别获取预设灰阶点范围内最大反射率参数和最小反射率参数；

根据所述最大反射率参数、最小反射率参数以及所述待测试灰阶图像对应的灰阶点，对所述测试反射率参数进行归一化处理。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述加载待测灰阶点对应的待测试灰阶图像，包括：

根据所述最大反射率参数和最小反射率参数，计算获取所述硅基微显示模组的对比度参数；

若确定所述对比度参数小于预设阈值，则加载待测灰阶点对应的待测试灰阶图像。