[发明专利]半导体电路测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质在审
| 申请号： | 202110611790.7 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113341298A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 左安超;谢荣才;王敏 | 申请（专利权）人： | 广东汇芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/52;G01R31/54 |
| 代理公司： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人： | 隆毅 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市南海区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种半导体电路测试方法，所述半导体电路包括U相上桥臂输出端、V相上桥臂输出端、W相上桥臂输出端和电源输入端，所述半导体电路测试方法包括：在常温静态环境下，将U相上桥臂输出端、V相上桥臂输出端、W相上桥臂输出端短接，所述U相上桥臂输出端、V相上桥臂输出端、W相上桥臂输出端短接后形成第一合并端；施加第一预设电压于所述电源输入端与所述第一合并端；待持续第一预设时长后，获取UVW三相上桥臂的第一漏电流；基于所述第一漏电流与第一参考漏电流，判断UVW三相上桥臂的漏电流测试是否正常。此外，本发明还公开一种半导体电路测试装置、电子设备及计算机存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 电路 测试 方法 装置 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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