[发明专利]深紫外发光二极管的外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110601584.8 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113571614B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 丁涛;龚程成;尹涌;梅劲 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本公开提供了一种深紫外发光二极管的外延片及其制备方法,该外延片包括衬底和依次形成在衬底上的AlN反射层、AlN应力释放层、AlN模板层、n型AlGaN层、多量子阱层和p型层;AlN反射层为周期性结构,AlN反射层包括交替层叠的AlN膜层和AlON膜层,AlN膜层的折射率和AlON膜层的折射率不同;AlN应力释放层为周期性结构,AlN应力释放层包括交替层叠的多个第一AlN层和多个第二AlN层,第一AlN层采用物理气相沉积的方式生长,第二AlN层采用金属有机化合物化学气相沉积的方式生长,前若干个周期中的第二AlN层的生长温度低于剩余周期中的第二AlN层的生长温度。本公开能减少外延片的位错缺陷,改善外延片的晶体质量,且还能提高AlN膜层的反光效果,提升外延片的发光效率。
搜索关键词: 深紫 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
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