[发明专利]一种测向方法和装置在审
| 申请号： | 202110599710.0 | 申请日： | 2021-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN113406561A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 尤明懿;陆安南 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十六研究所 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 权鲜枝 |
| 地址： | 314033 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种测向方法和装置。本申请的一种测向装置包括：存储器和处理器；另一种测向装置包括：相位放大单元、相位差计算单元和到达角计算单元；测向方法包括：利用预先构建的测向系统接收来波信号，获得测向系统中多条测向基线对应的耦合放大电路对来波信号的响应信号；根据各条测向基线对应的响应信号，计算出各条测向基线的相位差测量值；根据各条测向基线的相位差测量值和各条测向基线的相位差理论值，得到来波信号的到达角估计值。本申请的实施例能够充分利用多阵元相位干涉仪测向系统优点的同时，实现测向系统的设备小型化与高精度测向的兼顾。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测向 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三十六研究所，未经中国电子科技集团公司第三十六研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110599710.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：多色光源及投影设备
- 下一篇：一种高强度灰铸铁多元低合金化处理方法
