[发明专利]量子芯片测试装置、方法以及量子计算机在审
| 申请号： | 202110588475.7 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN115407184A | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 石汉卿;张昂 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种量子芯片测试装置、方法以及量子计算机，包括：界面终端，用于接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令、以及用于获得量子芯片的评估结果；测试模块，用于接收所述测试指令，输出与所述测试指令对应的测试信号、以及发送所述评估结果，其中，所述评估结果通过处理所述量子芯片反馈的与所述测试信号对应的测试结果确定；转接模块，用于将接收到的所述测试信号转发至所述量子芯片、以及将所述测试结果转发至所述测试模块。本申请能够通过界面触发量子芯片的测试指令且测试结果通过界面可视化、提高操作效率和用户体验。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 芯片 测试 装置 方法 以及 计算机 | ||
【主权项】：
暂无信息
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