[发明专利]用于确定MS扫描数据中的干扰、过滤离子并对样品进行质谱分析的方法和装置

摘要

提供一种确定对应于MS扫描数据中的前体分子的同位素分布的特定峰的一个或多个干扰参数的方法。所述MS扫描数据包含多个峰。每个峰具有质荷比和相对丰度。所述同位素分布包含多个峰的子集。所述一个或多个干扰参数包含所述特定峰的峰纯度pi。所述方法包含确定不存在与所述同位素分布有关的干扰峰，并且确定所述特定峰的峰纯度pi应为最大纯度值。或者，所述方法包含鉴别来自所述MS扫描数据的一个或多个干扰峰，其中所述一个或多个干扰峰不属于所述同位素分布的峰的子集，并且基于以下各者确定所述特定峰的峰纯度pi：所述特定峰的相对丰度Ii，和所述一个或多个干扰峰的相对丰度。