[发明专利]用于确定MS扫描数据中的干扰、过滤离子并对样品进行质谱分析的方法和装置

说明书

提供一种确定对应于MS扫描数据中的前体分子的同位素分布的特定峰的一个或多个干扰参数的方法。所述MS扫描数据包含多个峰。每个峰具有质荷比和相对丰度。所述同位素分布包含多个峰的子集。所述一个或多个干扰参数包含所述特定峰的峰纯度pi。所述方法包含确定不存在与所述同位素分布有关的干扰峰，并且确定所述特定峰的峰纯度pi应为最大纯度值。或者，所述方法包含鉴别来自所述MS扫描数据的一个或多个干扰峰，其中所述一个或多个干扰峰不属于所述同位素分布的峰的子集，并且基于以下各者确定所述特定峰的峰纯度pi：所述特定峰的相对丰度Ii，和所述一个或多个干扰峰的相对丰度。

技术领域

本公开涉及质谱分析领域。更确切地说，本公开涉及用于确定前体离子分析期间的同位素簇的干扰水平的方法和系统。

背景技术

可通过制备样品并且通过其质量峰观察质谱(MS)中的样品分子(前体)来鉴别样品的分子。每个前体分子物质可能会在质谱中产生多个峰，因为所述分子有同位素存在于样品。所有与相同前体分子有关的峰的簇可称为同位素簇或同位素分布。为了鉴别前体，可将在同位素簇的质量峰周围的质量窗口W中的离子分离、碎片化，并且然后可基于碎片频谱分析碎片的质谱(MS²)以鉴别分子。

在目标前体分子的离子的同位素簇周围的质量窗口中，也可观察到属于不同前体分子的同位素簇的质量峰。不同分子的同位素簇的此干扰影响使通过在MS²质谱中观察到的分子碎片来鉴别分子复杂化。

鉴于以上问题，优选的是分析具有不受来自另一同位素簇的干扰影响或基本上不受来自另一同位素簇的干扰影响的同位素簇的前体分子。描述干扰影响的另一术语是质谱质量范围的“纯度”或也称为“非干扰分数”。

US 9583323提出采用不同质量窗口大小W的MS²质谱，并且当针对不同质量窗口观察到相同峰时，将质量扫描鉴别为无干扰。

关于US 9583323中所建议的方法，使用在不同提取离子色谱图(XIC)宽度处使用的各种隔离窗口的比较。在各种实施例中，串联质谱仪在质量范围的多个质量选择窗口宽度上进行单个前体扫描和多个碎片扫描，这允许在串联质谱仪单次运行之后进行采集后处理。串联质谱仪使用一个或多个前体离子的单次质谱扫描，以及使用整个质量范围内的两个或更多个隔离窗口宽度的产物离子的两次或更多次质谱扫描来分析第一样品。两个或更多个隔离窗口宽度可以是均一的或可变的。在另一步骤中，如果一个或多个峰参数的第一集合与一个或多个峰参数的第二集合基本上相同，那么将产物离子鉴别为不包括干扰。

US 8455818提出鉴别由所研究的前体峰的强度比和干扰峰的强度界定的干扰的量。当干扰量的值较小或前体纯度高于前体离子的阈值时，将检测前体离子的MS²质谱。否则，将会对前体离子进行纯化过程。

US 8455818描述了其中评估来自非相关峰的干扰的预定义窗口。这一文件还描述了一种使用质谱分析来分析被分析物的方法，所述方法包含：提供被分析物；从被分析物产生前体离子的分布；分析至少一部分前体离子分布的质荷比，从而生成与前体离子分布相对应的前体离子质谱分析数据；在前体离子质谱分析数据中鉴别对应于前体离子的前体峰；确定在前体峰附近的m/z单位的预选范围内的干扰量，其中所述预选范围在前体峰的0.01到10m/z单位内；并且当干扰量小于选定值时，打碎对应于前体峰附近的m/z单位的预选范围的离子，从而生成碎片离子；并且当干扰量大于或等于选定值时，不打碎对应于前体峰附近的m/z单位的预选范围的离子。

另一方法描述于WO 2016198984中。这一文件鉴别在MS全谱扫描步骤中产生的前体离子频谱中的前体离子峰，确定前体离子频谱中的前体离子峰是否包括卷积特征，且如果前体离子峰包括卷积特征，那么指示质谱仪防止前体离子峰在多个循环中的一个或多个后续循环的过滤步骤中被排除。