[发明专利]一种材料微波复介电常数和复磁导率测试方法及系统有效
| 申请号： | 202110548840.1 | 申请日： | 2021-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN113281572B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 龚荣洲;覃维;龚韦;王鲜;王韬 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R33/12 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 胡秋萍 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种材料微波复介电常数和复磁导率测试方法及系统，属于微波、毫米波测试领域，方法包括：获取样品材料在第一测试位置处的第一输入回波损耗、以及在第二测试位置处的第二输入回波损耗；根据样品传输系数和反射系数与第一输入回波损耗、第二输入回波损耗之间的函数关系计算样品传输系数和反射系数，该函数关系基于传输线理论和边界条件建立；根据复介电常数和复磁导率与样品传输系数、反射系数之间的函数关系计算复介电常数和复磁导率。仅基于不同位置处的输入回波损耗S |
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| 搜索关键词： | 一种 材料 微波 介电常数 磁导率 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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