[发明专利]全内反射检测基因芯片杂交结果的方法有效

专利信息
申请号: 202110541260.X 申请日: 2021-05-18
公开(公告)号: CN112964688B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 华子昂;刘宝全;竹添;朱美瑛;万君兴;张建;李娜 申请(专利权)人: 北京百奥纳芯生物科技有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 北京国谦专利代理事务所(普通合伙) 11752 代理人: 肖应国
地址: 100176 北京市大兴区北京经济技术*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种全内反射检测基因芯片杂交结果的方法,包括:构造基因芯片检测仪,利用石英玻璃板(2)将基因芯片检测仪的暗箱(1)分为光源暗箱(3)与成像暗箱(16);在石英玻璃板(2)上添加与石英玻璃的折射率相同的等折射率溶液(9);将基因芯片的石英玻璃基片放置在等折射率溶液(9)上;调整面平行光光源发生器(6)的位置和角度,使得发出的面平行光形成全内反射;全内反射的隐失波(11)激发基因芯片的探针(12)上的荧光物质发出标记荧光(13);标记荧光(13)被高分辨率相机(15)捕获,最终获得检测结果。本发明的方法避免了荧光成像过程中的背景干扰,提高了基因芯片杂交结果的信噪比和检测灵敏度。
搜索关键词: 反射 检测 基因芯片 杂交 结果 方法
【主权项】:
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