[发明专利]全内反射检测基因芯片杂交结果的方法

权利要求书

1.一种全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述方法包括：

构造基因芯片检测仪，所述基因芯片检测仪中设置有石英玻璃板（2），所述石英玻璃板（2）将基因芯片检测仪的暗箱（1）分为光源暗箱（3）与成像暗箱（16）；

在石英玻璃板（2）上添加与石英玻璃的折射率相同的等折射率溶液（9）；

将基因芯片的石英玻璃基片（10）放置在等折射率溶液（9）上，等折射率溶液（9）将基因芯片的石英玻璃基片（10）和石英玻璃板（2）粘合在一起，使得基因芯片的石英玻璃基片（10）、等折射率溶液（9）和石英玻璃板（2）成为折射率连续一致的光学介质；

调整面平行光光源发生器（6）的位置和角度，使得发出的面平行光能够照射到基因芯片的石英玻璃基片（10）上形成全内反射，光源激发光（7）被全反射形成光源反射光（8）的同时还会在基因芯片的石英玻璃基片（10）的表面形成全内反射的隐失波（11）；

全内反射的隐失波（11）激发基因芯片的石英玻璃基片（10）上的探针（12）上已经完成杂交和荧光标记的荧光物质而发出标记荧光（13）；

标记荧光（13）被高分辨率相机（15）捕获，形成荧光成像图，经过数据分析和整理，最终获得基因芯片杂交的检测结果。

2.根据权利要求1所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述面平行光在石英玻璃基片（10）的表面100nm范围内形成全内反射的隐失波（11）。

3.根据权利要求2所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，阻断光反射材料（17）铺设在暗箱（1）的内表面上，使得暗箱（1）的内表面上的阻断光反射材料（17）阻止照射到暗箱（1）的内表面上的光被反射。

4.根据权利要求1所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述面平行光是由面平行光光源发生器（6）发出，所述面平行光光源发生器（6）包括激光光源和激光光束扩束器。

5.根据权利要求4所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，调节所述面平行光光源发生器（6）的位置和角度，是通过调节与面平行光光源发生器（6）相连的伺服电机（5）在激光光源支架（4）上的位置和面平行光光源发生器（6）在伺服电机（5）上的转动角度实现的。

6.根据权利要求1所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述高分辨率相机（15）为电荷耦合器件相机或者互补金属氧化物半导体相机。

7.根据权利要求1所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，标记荧光（13）经过带通滤光片（14）的选择性滤光后被高分辨率相机（15）捕获。

8.根据权利要求1-7中任一项所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述等折射率溶液（9）为乙二醇溶液。

9.根据权利要求1-7中任一项所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述成像暗箱（16）位于所述光源暗箱（3）的上方，且成像暗箱（16）的沿水平的第一方向的尺寸小于光源暗箱（3）的沿所述水平的第一方向的尺寸。

10.根据权利要求7所述的全内反射检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述带通滤光片（14）根据探针（12）发出的标记荧光（13）的波长进行选择。