[发明专利]一种用于表面缺陷检测的正样本扩充方法有效

专利信息
申请号: 202110504902.9 申请日: 2021-05-10
公开(公告)号: CN113159216B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 蒋三新;王新宇 申请(专利权)人: 上海电力大学
主分类号: G06V10/774 分类号: G06V10/774;G06V10/764;G06V10/82;G06T7/00;G06T7/62;G06N3/0464;G06N3/08
代理公司: 南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32272 代理人: 王晓东
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于表面缺陷检测的正样本扩充方法,包括,将检测器生成的目标框和检测框的位置坐标输入至非极大抑制单元,通过非极大抑制单元去除重叠检测框,保留包含目标信息的检测框;通过样本判定单元筛选和判定负样本、正样本以及半正样本;通过样本采样单元根据设定的正负样本采样比例对负样本、正样本以及半正样本进行采样;将全部采样数据输入至损失回归单元,通过损失回归单元进行检测框分类损失训练和检测框定位回归训练,进而扩充正样本;本发明可以更准确地衡量检测框与目标框之间的重叠程度;同时,改善了正负样本的不平衡问题,且可直接迁移应用至多种目标检测网络中,无需预训练,通用性好。
搜索关键词: 一种 用于 表面 缺陷 检测 样本 扩充 方法
【主权项】:
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