[发明专利]一种高速测试系统及其使用方法在审
| 申请号： | 202110504429.4 | 申请日： | 2021-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN115327337A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 曹佶;赵宝忠 | 申请（专利权）人： | 浙江杭可仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州市萧山区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高速测试系统，包括控制单元、数字图形发生单元、参数测试单元、高速信号传输单元和测试板，所述数字图形发生单元和所述参数测试单元均分别与所述控制单元信号连接，所述数字图形发生单元、所述参数测试单元和所述测试板均分别信号连接所述高速信号传输单元，所述参数测试单元包括信号连接的电源参数测试电路和多路数字IO口，多路数字IO口与所述高速信号传输单元信号连接。本申请还公开了所述高速测试系统的使用方法。其能全面快速地测试芯片的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高速 测试 系统 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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