[发明专利]一种表面缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110489417.9 申请日: 2021-05-06
公开(公告)号: CN112907595B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 汤勃;李玉;林中康;李锦达;孙伟;孔建益;戴超凡 申请(专利权)人: 武汉科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 远明
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请涉及图像处理技术领域,以及提供一种表面缺陷检测方法及装置;该方法首先对待检测的表面缺陷图像的各底层特征进行提取得到各特征图像金字塔,根据中心周边差机制确定各特征图像金字塔对应的各特征图,将各特征图进行归一化处理,并将同一类型的特征图进行相加得到各特征显著图,以各特征显著图所具有的能量比例为权重融合各特征显著图得到合成显著图,然后对表面缺陷图像的高层特征进行提取、融合和采样操作得到高层显著图,最后以合成显著图所具有的能量比例以及高层显著图所具有的能量比例为权重,融合合成显著图和高层显著图得到总显著图,再根据总显著图确定表面缺陷图像的缺陷种类和缺陷位置。本申请提高了表面缺陷检测的识别精度。
搜索关键词: 一种 表面 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
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