[发明专利]一种表面缺陷检测方法及装置有效
申请号: | 202110489417.9 | 申请日: | 2021-05-06 |
公开(公告)号: | CN112907595B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 汤勃;李玉;林中康;李锦达;孙伟;孔建益;戴超凡 | 申请(专利权)人: | 武汉科技大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 远明 |
地址: | 430081 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及图像处理技术领域,以及提供一种表面缺陷检测方法及装置;该方法首先对待检测的表面缺陷图像的各底层特征进行提取得到各特征图像金字塔,根据中心周边差机制确定各特征图像金字塔对应的各特征图,将各特征图进行归一化处理,并将同一类型的特征图进行相加得到各特征显著图,以各特征显著图所具有的能量比例为权重融合各特征显著图得到合成显著图,然后对表面缺陷图像的高层特征进行提取、融合和采样操作得到高层显著图,最后以合成显著图所具有的能量比例以及高层显著图所具有的能量比例为权重,融合合成显著图和高层显著图得到总显著图,再根据总显著图确定表面缺陷图像的缺陷种类和缺陷位置。本申请提高了表面缺陷检测的识别精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉科技大学,未经武汉科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110489417.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。