[发明专利]矢量脱靶量参数的测量方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110455787.0 | 申请日： | 2021-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113514809A | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 魏国华;任金隆;王文静;王旭 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41;F41G3/32;G01N22/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 陈新生 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种矢量脱靶量参数的测量方法、装置、电子设备和存储介质，包括：对M路接收天线接收的每一路模拟雷达回波进行预处理，得到M路数字有效回波数据，其中，所述每一路模拟雷达回波均由发射天线发射出的脉冲调制信号经过与靶交会过程中的被测目标反射得到，M为大于3的正整数；对所述M路数字有效回波数据采用最大似然估计器处理，输出所述被测目标在与所述发射天线最近距离处的矢量定位参数；基于所述矢量定位参数确定所述被测目标的矢量脱靶量参数。本发明提供的方法、装置、电子设备和存储介质，能实现高精度和抗噪性能好的矢量脱靶量参数测量。 | ||
| 搜索关键词： | 矢量 脱靶 参数 测量方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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