[发明专利]一种纳米锥光谱分析器件及光谱分析方法有效
| 申请号： | 202110451210.2 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113175992B | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 王军转;孙浚凯;施毅 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01J3/12 | 分类号： | G01J3/12;G01J3/28;G01J3/42 |
| 代理公司： | 南京乐羽知行专利代理事务所(普通合伙) 32326 | 代理人： | 李培 |
| 地址： | 210000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种纳米锥光谱分析器件，包括衬底、平放于衬底上的纳米锥台及分布于所述纳米锥台上的一组电极；所述纳米锥台的顶半径记做r1，为入射光入射端口半径；所述纳米锥台的底半径记做r2，为纳米锥台的底端半径，所述纳米锥台的长度记做L；所述顶半径长度r1及底半径长度r2的数值均为数百纳米以内，长度L为数微米长，所述顶半径长度r1至多为底半径长度r2的二分之一。本发明由于其自身结构就能够将不同波长的光约束在不同位置，具备了分光能力，且硅纳米线自身也具有良好的光吸收能力，展示了纳米线自身腔模式色彩分辨能力以及线上集成宽光谱探测的潜力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 光谱分析 器件 方法 | ||
【主权项】：
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