[发明专利]具有改进的集成度和可靠性的具有标准单元的半导体装置在审

专利信息
申请号: 202110441277.8 申请日: 2021-04-23
公开(公告)号: CN113571509A 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 金珍泰;李在夏;许东渊 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体装置,其包括在衬底上的第一标准单元和第二标准单元,第一标准单元和第二标准单元具有各自的半导体元件和电连接到半导体元件的第一互连线。提供布线结构,布线结构设置在第一标准单元和第二标准单元上。布线结构包括电连接到第一互连线的第二互连线。第一互连线包括被构造为向半导体元件供电的第一电力传输线和电耦接到半导体元件的第一信号传输线。第二互连线包括:(i)第二电力传输线,其电连接到第一电力传输线并且延伸第一长度,(ii)第二信号传输线,其电连接到第一信号传输线,以及(iii)钉线,其电连接到第一电力传输线,在第一标准单元和第二标准单元之间的边界上延伸,并且延伸小于第一长度的第二长度。
搜索关键词: 具有 改进 集成度 可靠性 标准 单元 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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