[发明专利]一种光照不均匀条件下密集微粒图像的处理方法有效
申请号: | 202110414176.1 | 申请日: | 2021-04-16 |
公开(公告)号: | CN113160098B | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 吴世军;郅慧;陈玉璐;阮永蔚;杨灿军 | 申请(专利权)人: | 浙江大学;中国船舶重工集团公司第七一五研究所 |
主分类号: | G06T5/40 | 分类号: | G06T5/40;G06T5/00;G06T7/11;G06T7/194;G06T7/155 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 颜果 |
地址: | 310013 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种光照不均匀条件下密集微粒图像的处理方法,属于图像处理技术领域。包括:1)提取图像中由于光照不均产生的不均匀背景;2)去除图像中的不均匀背景;3)判断图像中是否存在喷口;若否,则执行步骤4);若是,则执行步骤5);4)对图像逐列进行直方图均衡化处理;5)先对喷口所在的列进行分段直方图均衡化处理,再对其他列进行直方图均衡化;6)对图像逐行进行二值化处理。对图像进行逐列直方图均衡化和逐行二值化,并单独处理了喷口部分,消除了不均匀光照对微粒和背景亮度产生的影响,保证了明暗不同的微粒均被完整识别。还将密集颗粒逐个区分开,达到很好的视觉效果和真实性。对不均匀光照条件下密集微粒的识别非常有效。 | ||
搜索关键词: | 一种 光照 不均匀 条件下 密集 微粒 图像 处理 方法 | ||
【主权项】:
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