[发明专利]一种集成电路芯片检测设备及测试方法有效
| 申请号： | 202110383702.2 | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN113064057B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 陈益群;季学敏;蔡毅 | 申请（专利权）人： | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01N3/02;G01N3/08;G01N21/95 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;吕诗 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于芯片检测设备技术领域，具体的说是一种集成电路芯片检测设备及测试方法，包括底座和支架；所述底座顶端上固接有放置座；所述支架位于放置座正上方的端面上固接有气缸；所述气缸的伸缩杆上固接有固定板，且固定板底端中心处固接有摄像头；所述固定板底端固接有一对对称分布的压杆；所述放置座内设置有探针；本发明提供一种集成电路芯片检测设备及测试方法，以解决在对集成电路芯片进行检测时，一般采用人工将探针对准芯片的引脚处进行测试，测试效率低，且测试的范围单一的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 检测 设备 测试 方法 | ||
【主权项】：
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