[发明专利]硅基红外探测器芯片背面减薄方法及硅基红外探测器芯片有效
申请号: | 202110380310.0 | 申请日: | 2021-04-09 |
公开(公告)号: | CN113270518B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 程雨;刘海龙;王成刚 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/101 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 张然 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅基红外探测器芯片背面减薄方法及硅基红外探测器芯片。硅基红外探测器芯片背面减薄方法,包括:沿焦平面阵列本体的四周涂抹光刻胶,以遮挡所述焦平面阵列本体的四周与读出电路板所形成的缝隙;对所述焦平面阵列本体的衬底进行背面减薄相关工艺;去除所述光刻胶。采用本发明,在常规红外探测器芯片减薄和硅材料减薄的基础上,在硅基红外探测器芯片背面减薄前,对焦平面阵列与电路接触的四周缝隙进行光刻胶阻隔,防止内部被背面减薄工艺所污染或者腐蚀,在背面减薄后对焦平面阵列与电路接触的四周缝隙进行清洁,防止造成焊接效果不佳以及焦平面阵列与电路的间隙光刻胶残留,解决了铟凸点缝隙间不填充胶水的芯片减薄工艺难题。 | ||
搜索关键词: | 红外探测器 芯片 背面 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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