[发明专利]硅基红外探测器芯片背面减薄方法及硅基红外探测器芯片有效

专利信息
申请号: 202110380310.0 申请日: 2021-04-09
公开(公告)号: CN113270518B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 程雨;刘海龙;王成刚 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/101
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 张然
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种硅基红外探测器芯片背面减薄方法及硅基红外探测器芯片。硅基红外探测器芯片背面减薄方法,包括:沿焦平面阵列本体的四周涂抹光刻胶,以遮挡所述焦平面阵列本体的四周与读出电路板所形成的缝隙;对所述焦平面阵列本体的衬底进行背面减薄相关工艺;去除所述光刻胶。采用本发明,在常规红外探测器芯片减薄和硅材料减薄的基础上,在硅基红外探测器芯片背面减薄前,对焦平面阵列与电路接触的四周缝隙进行光刻胶阻隔,防止内部被背面减薄工艺所污染或者腐蚀,在背面减薄后对焦平面阵列与电路接触的四周缝隙进行清洁,防止造成焊接效果不佳以及焦平面阵列与电路的间隙光刻胶残留,解决了铟凸点缝隙间不填充胶水的芯片减薄工艺难题。
搜索关键词: 红外探测器 芯片 背面 方法
【主权项】:
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