[发明专利]二维异质结材料界面缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110379721.8 申请日: 2021-04-08
公开(公告)号: CN113125363B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 刘大猛;刘欢;雒建斌 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/65;G01N27/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 郑朝然
地址: 100084 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种二维异质结材料界面缺陷检测方法及装置,该方法包括:利用飞秒瞬态吸收成像系统对石墨烯和TMDC材料构成的二维异质结进行探测,获取探测光衰减曲线;根据探测光衰减曲线获取电声耦合寿命;根据电声耦合寿命与等离子攻击时间关系曲线获取等离子攻击时间;根据等离子攻击时间获取缺陷浓度。本发明提供的二维异质结材料界面缺陷检测方法,通过利用飞秒瞬态吸收成像系统获取异质结探测光衰减曲线,根据探测光衰减曲线获取电声耦合寿命,根据电声耦合寿命与等离子攻击时间关系曲线获取等离子攻击时间,根据等离子攻击时间获取缺陷浓度,实现利用飞秒瞬态吸收成像技术,基于“缺陷‑电声耦合”作用机理,检测二维材料异质结界面缺陷。
搜索关键词: 二维 异质结 材料 界面 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
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