[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110362002.5 | 申请日： | 2021-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN115184764A | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 于永庆;谢少辉;吴明飞;靳慧杰;金正雄;杨欣欣 | 申请（专利权）人： | 湖北芯擎科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 远明 |
| 地址： | 430056 湖北省武汉市经济技*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，芯片包括只读存储器和可编程存储器，只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据，可编程存储器包括多个存储单元，该方法先获取多个存储单元的存储信息，根据存储信息，从多个存储单元中确定目标存储单元，并从目标存储单元中获取目标补丁数据，再根据目标补丁数据，确定芯片的目标测试主体，目标测试主体包括至少两个测试平台中的目标测试平台或芯片，然后根据目标测试主体，从芯片运行数据和至少两个平台运行数据中确定目标运行数据，最后调用目标运行数据对芯片进行测试。本申请实现了同一版本的运行数据适应于各类测试平台的测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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