[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，芯片包括只读存储器和可编程存储器，只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据，可编程存储器包括多个存储单元，该方法先获取多个存储单元的存储信息，根据存储信息，从多个存储单元中确定目标存储单元，并从目标存储单元中获取目标补丁数据，再根据目标补丁数据，确定芯片的目标测试主体，目标测试主体包括至少两个测试平台中的目标测试平台或芯片，然后根据目标测试主体，从芯片运行数据和至少两个平台运行数据中确定目标运行数据，最后调用目标运行数据对芯片进行测试。本申请实现了同一版本的运行数据适应于各类测试平台的测试需求。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

通过硬件仿真平台(EMU平台)进行芯片验证可以极大地提高仿真效率，因此在验证极大规模的芯片设计时得到广泛应用。Boot ROM是嵌入式处理器芯片内的一小块掩膜ROM或写保护闪存，包含处理器在上电或复位时执行的第一个代码，Boot ROM的开发、测试和测试需要在多个EMU平台进行，但每个EMU平台的测试重点不同，使得每个EMU平台都需要维护一套ROM源码版本，具体在哪个平台测试，就编译哪一个版本的ROM源码。然而，版本较多易发生混乱，且需要花费时间和精力进行版本的维护和发布，使得测试效率较低。

因此，现有的芯片测试过程存在ROM源码版本过多的技术问题，需要改进。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，用以缓解现有的芯片测试过程中ROM源码版本过多的技术问题。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：

本申请提供一种芯片测试方法，芯片包括只读存储器和可编程存储器，所述只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据，各平台运行数据适用于不同测试平台，所述可编程存储器包括多个存储单元，所述存储单元用于存储补丁数据，所述芯片测试方法包括：

获取所述多个存储单元的存储信息，根据所述存储信息，从所述多个存储单元中确定目标存储单元，并从所述目标存储单元中获取目标补丁数据；

根据所述目标补丁数据，确定所述芯片的目标测试主体，所述目标测试主体包括所述至少两个测试平台中的目标测试平台或所述芯片；

根据所述目标测试主体，从所述芯片运行数据和所述至少两个平台运行数据中确定目标运行数据，所述目标运行数据包括所述至少两个平台运行数据中的目标平台运行数据或所述芯片运行数据；

调用所述目标运行数据对芯片进行测试。

同时，本申请还提供一种芯片测试装置，芯片包括只读存储器和可编程存储器，所述只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据，各平台运行数据适用于不同测试平台，所述可编程存储器包括多个存储单元，所述存储单元用于存储补丁数据，所述芯片测试装置包括：

获取模块，用于获取所述多个存储单元的存储信息，根据所述存储信息，从所述多个存储单元中确定目标存储单元，并从所述目标存储单元中获取目标补丁数据；

第一确定模块，用于根据所述目标补丁数据，确定所述芯片的目标测试主体，所述目标测试主体包括所述至少两个测试平台中的目标测试平台或所述芯片；

第二确定模块，用于根据所述目标测试主体，从所述芯片运行数据和所述至少两个平台运行数据中确定目标运行数据，所述目标运行数据包括所述至少两个平台运行数据中的目标平台运行数据或所述芯片运行数据；

调用模块，用于调用所述目标运行数据对芯片进行测试。

本申请还提供一种电子设备，包括存储器和处理器；所述存储器存储有应用程序，所述处理器用于运行所述存储器内的应用程序，以执行上述任一项所述的芯片测试方法中的操作。