[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，芯片包括只读存储器和可编程存储器，所述只读存储器包括芯片运行数据和至少两个平台运行数据，各平台运行数据适用于不同测试平台，所述可编程存储器包括多个存储单元，所述存储单元用于存储补丁数据，所述芯片测试方法包括：

获取所述多个存储单元的存储信息，根据所述存储信息，从所述多个存储单元中确定目标存储单元，并从所述目标存储单元中获取目标补丁数据；

根据所述目标补丁数据，确定所述芯片的目标测试主体，所述目标测试主体包括所述至少两个测试平台中的目标测试平台或所述芯片；

根据所述目标测试主体，从所述芯片运行数据和所述至少两个平台运行数据中确定目标运行数据，所述目标运行数据包括所述至少两个平台运行数据中的目标平台运行数据或所述芯片运行数据；

调用所述目标运行数据对芯片进行测试。

2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，根据所述存储信息，从所述多个存储单元中确定目标存储单元，并从所述目标存储单元中获取目标补丁数据的步骤，包括：

根据所述存储信息，将所述可编程存储器中存储有补丁数据的存储单元确定为目标存储单元；

从所述目标存储单元中获取目标补丁数据。

3.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述目标补丁数据包括权限标识、补丁运行地址和测试主体标识，根据所述目标补丁数据，确定所述芯片的目标测试主体的步骤，包括：

根据所述目标补丁数据的权限标识，判断所述目标补丁数据是否有效；

在所述目标补丁数据有效时，若所述测试主体标识为零，将所述芯片确定为所述目标测试主体；

在所述目标补丁数据有效时，若所述测试主体标识不为零，根据所述测试主体标识和预设测试平台标识，从所述至少两个测试平台中确定目标测试平台，将所述目标测试平台作为所述目标测试主体。

4.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，根据所述目标测试主体，从所述芯片运行数据和所述至少两个平台运行数据中确定目标运行数据的步骤，包括：

在所述目标测试主体为芯片时，将所述芯片运行数据确定为目标运行数据；

在所述目标测试主体为目标测试平台时，从所述至少两个平台运行数据中确定适用于所述目标测试平台的目标平台运行数据，将所述目标平台运行数据确定为目标运行数据。

5.如权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，调用所述目标运行数据对芯片进行测试的步骤，包括：

在所述目标测试主体为芯片时，调用所述芯片运行数据对芯片进行测试；

在所述目标测试主体为目标测试平台时，根据所述目标补丁数据中的补丁运行地址，确定所述目标平台运行数据的目标运行地址，基于所述目标运行地址调用所述目标平台运行数据对芯片进行测试。

6.如权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述目标测试主体为目标测试平台时，根据所述目标补丁数据中的补丁运行地址，确定所述目标平台运行数据的目标运行地址的步骤，包括：

在所述目标测试主体为目标测试平台时，匹配所述补丁运行地址和所述只读存储器中各运行数据的多个原始运行地址；

将与所述补丁运行地址相等的原始运行地址确定为目标运行地址。

7.如权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，在基于所述目标运行地址调用所述目标平台运行数据对芯片进行测试的步骤之后，还包括：

在所述目标平台运行数据运行完成后，调用所述芯片运行数据继续对芯片进行测试。