[发明专利]中子成像和X射线成像系统、方法以及装置在审

专利信息
申请号: 202110356218.0 申请日: 2021-04-01
公开(公告)号: CN113075241A 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 陈东风;孙凯;武梅梅;贺林峰;韩松柏;李玉庆;李正耀;郝丽杰;祖勇;王天韵;阮世豪;刘晓光 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/05
代理公司: 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 代理人: 王鹏鑫
地址: 102413 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明的实施例公开了一种中子成像和X射线成像系统、方法以及装置。成像系统包括X射线源、X射线探测器、样品台、中子源和中子探测器。X射线源向样品发射X射线束线;X射线探测器与X射线源相对设置;样品台设置于X射线源和X射线探测器之间,样品放置于样品台上,样品台调整样品的姿态;中子源设置于样品台的一侧,中子源向样品发射中子束线;中子探测器设置于样品台的另一侧,并与中子源相对设置;X射线源和X射线探测器所在直线方向与中子源和中子探测器所在直线方向成角度设置。这种成像系统可以实现对同一样品同时进行中子成像和X射线成像,可以获得被测样品更全面的信息。
搜索关键词: 中子 成像 射线 系统 方法 以及 装置
【主权项】:
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