[发明专利]中子成像和X射线成像系统、方法以及装置

说明书

本发明的实施例公开了一种中子成像和X射线成像系统、方法以及装置。成像系统包括X射线源、X射线探测器、样品台、中子源和中子探测器。X射线源向样品发射X射线束线；X射线探测器与X射线源相对设置；样品台设置于X射线源和X射线探测器之间，样品放置于样品台上，样品台调整样品的姿态；中子源设置于样品台的一侧，中子源向样品发射中子束线；中子探测器设置于样品台的另一侧，并与中子源相对设置；X射线源和X射线探测器所在直线方向与中子源和中子探测器所在直线方向成角度设置。这种成像系统可以实现对同一样品同时进行中子成像和X射线成像，可以获得被测样品更全面的信息。

技术领域

本发明的实施例涉及射线成像技术领域，具体涉及一种中子成像和X射线成像系统、方法以及装置。

背景技术

中子成像和X射线成像是基于射线穿过被检测样品时强度上的衰减变化，对被检测样品进行透视成像，获取被检测样品的图像信息。但是，中子成像和X射线成像的原理不同，导致它们所能检测的样品种类和检测到的样品信息不同。目前，X射线成像技术主要用于检测样品中的高密度材料，中子成像技术主要用于检测样品轻元素，仅仅使用X射线成像技术或中子成像技术无法获得被检测样品的全面的图像信息。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的中子成像和X射线成像系统、方法以及装置。

根据本发明的第一个方面，提供了一种用于对样品进行中子成像和X射线成像的成像系统，包括：X射线源，所述X射线源向所述样品发射X射线束线；X射线探测器，所述X射线探测器与所述X射线源相对设置；样品台，所述样品台设置于所述X射线源和所述X射线探测器之间，所述样品放置于所述样品台上，所述样品台调整所述样品的姿态；中子源，所述中子源设置于所述样品台的一侧，所述中子源向所述样品发射中子束线；中子探测器，所述中子探测器设置于所述样品台的另一侧，并与所述中子源相对设置；其中，所述X射线源和所述X射线探测器所在直线方向与所述中子源和所述中子探测器所在直线方向成角度设置。

可选地，所述X射线束线为锥束X射线。

可选地，所述X射线探测器为平板探测器，接收所述锥束X射线。

可选地，所述样品台设有转台，用于所述样品水平旋转。

可选地，所述样品台设有倾角台，所述倾角台的倾斜角度可调节。

可选地，所述成像系统还包括调整装置，所述X射线源和所述X射线探测器固定于所述调整装置，所述调整装置调整所述X射线源和所述X射线探测器的姿态，并且使得所述X射线源和所述X射线探测器同步围绕所述样品转动。

可选地，所述调整装置包括：主体，所述主体包括第一立柱、第二立柱和横梁，所述横梁的一端连接于所述第一立柱的一端，所述横梁的另一端连接于所述第二立柱的一端；第一支架，所述第一支架的一端可移动地固定于所述第一立柱上，所述第一支架的另一端可移动地固定于所述第二立柱上；第二支架，所述第二支架的中部同轴连接于所述第一支架的中部，所述X射线源固定于所述第二支架的一端，所述X射线探测器固定于所述第二支架的另一端。

可选地，所述第二支架固定有所述X射线探测器的一端设有调节手轮，所述调节手轮调节所述X射线探测器和所述X射线源之间的距离，并调节所述X射线探测器的设置姿态。

可选地，所述第一支架中部设有旋转手轮，操作所述旋转手轮，使得所述第二支架绕所述轴旋转摆动，带动固定于所述第二支架两端的所述X射线源和所述X射线探测器同步围绕所述样品转动。

可选地，所述第一立柱和所述第二立柱的一端设有可调节脚轮，调节所述调整装置的高度，并移动所述调整装置。

可选地，所述调整装置还包括调节件，所述调节件设置于所述第二立柱上，调节所述第一支架的高度。