[发明专利]中子成像和X射线成像系统、方法以及装置

权利要求书

1.一种用于对样品进行中子成像和X射线成像的成像系统，其特征在于，包括：

X射线源(10)，所述X射线源(10)向所述样品发射X射线束线；

X射线探测器(20)，所述X射线探测器(20)与所述X射线源(10)相对设置；

样品台(30)，所述样品台(30)设置于所述X射线源(10)和所述X射线探测器(20)之间，所述样品放置于所述样品台(30)上，所述样品台(30)调整所述样品的姿态；

中子源(40)，所述中子源(40)设置于所述样品台(30)的一侧，所述中子源(40)向所述样品发射中子束线；

中子探测器(50)，所述中子探测器(50)设置于所述样品台(30)的另一侧，并与所述中子源(40)相对设置；

其中，所述X射线源(10)和所述X射线探测器(20)所在直线方向与所述中子源(40)和所述中子探测器(50)所在直线方向成角度设置。

2.根据权利要求1所述的成像系统，其特征在于，所述X射线束线为锥束X射线。

3.根据权利要求1所述的成像系统，其特征在于，所述X射线探测器(20)为平板探测器，接收所述锥束X射线。

4.根据权利要求1所述的成像系统，其特征在于，所述样品台(30)设有转台，用于所述样品水平旋转。

5.根据权利要求1所述的成像系统，其特征在于，所述样品台(30)设有倾角台，所述倾角台的倾斜角度可调节。

6.根据权利要求1所述的成像系统，其特征在于，还包括调整装置(60)，所述X射线源(10)和所述X射线探测器(20)固定于所述调整装置(60)，所述调整装置(60)调整所述X射线源(10)和所述X射线探测器(20)的姿态，并且使得所述X射线源(10)和所述X射线探测器(20)同步围绕所述样品转动。

7.根据权利要求6所述的成像系统，其特征在于，所述调整装置(60)包括：

主体(61)，所述主体(61)包括第一立柱(611)、第二立柱(612)和横梁(613)，所述横梁(613)的一端连接于所述第一立柱(611)的一端，所述横梁(613)的另一端连接于所述第二立柱(612)的一端；

第一支架(62)，所述第一支架(62)的一端可移动地固定于所述第一立柱(611)上，所述第一支架(62)的另一端可移动地固定于所述第二立柱(612)上；

第二支架(63)，所述第二支架(63)的中部同轴连接于所述第一支架(62)的中部，所述X射线源(10)固定于所述第二支架(63)的一端，所述X射线探测器(20)固定于所述第二支架(63)的另一端。

8.根据权利要求7所述的成像系统，其特征在于，所述第二支架(63)固定有所述X射线探测器(20)的一端设有调节手轮(631)，所述调节手轮(631)调节所述X射线探测器(20)和所述X射线源(10)之间的距离，并调节所述X射线探测器(20)的设置姿态。

9.根据权利要求7所述的成像系统，其特征在于，所述第一支架(62)中部设有旋转手轮(621)，操作所述旋转手轮(621)，使得所述第二支架(63)绕所述轴旋转摆动，带动固定于所述第二支架(63)两端的所述X射线源(10)和所述X射线探测器(20)同步围绕所述样品转动。

10.根据权利要求7所述的成像系统，其特征在于，所述第一立柱(611)和所述第二立柱(612)的一端设有可调节脚轮，调节所述调整装置(60)的高度，并移动所述调整装置(60)。

11.根据权利要求7所述的成像系统，其特征在于，所述调整装置(60)还包括调节件，所述调节件设置于所述第二立柱(612)上，调节所述第一支架(62)的高度。