[发明专利]一种半导体设备数据采集仪器及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202110334835.0 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN113065539A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 曹海霞;孙俊杰;张伟江;金毅 申请(专利权)人: 南京东道电子装备技术研究院有限公司
主分类号: G06K9/20 分类号: G06K9/20;H04N5/765;H04Q1/02
代理公司: 北京翔瓯知识产权代理有限公司 11480 代理人: 张利靖
地址: 210000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种半导体设备数据采集仪器及其使用方法,包括壳体,所述壳体内设置有电路板,所述电路板上设置有若干接口,所述壳体上开设有与接口相适配的开口,电路板上设置有采样芯片,所述采集仪器VGA数据线连接电脑的VGA显示器,直接读取电脑中的数据,通过OCR识别单元数据流内容,所述采集仪器基于MQTT或SECS协议传输完成数据读取工作。本发明针对基于l i nux平台设计的产品,读取产品内数据,连接简单快捷,无须在客户设备安装任何软件,只需将仪器VGA端口与VGA显示器端口连接,高精度采样芯片能够准确读取数据,采用智能高效的识别算法精准读取数据。
搜索关键词: 一种 半导体设备 数据 采集 仪器 及其 使用方法
【主权项】:
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