[发明专利]一种标定干涉法测量面形中的回程误差的装置及方法有效

专利信息
申请号: 202110318218.1 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113091638B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 刘锋伟;邓婷;陈强;吴永前;覃蝶;徐淑静 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种标定干涉法测量面形中的回程误差的装置及方法,属于光学检测领域。该方法通过控制反射镜的位移及偏转,记录光斑偏离位置与Zernike多项式前36阶像差系数的关系来对系统的回程误差进行标定。具体通过五维电控微位移台控制反射镜发生微位移,使反射镜反射的光斑在视场范围内进行规律移动,记录不同光斑位置与Zernike多项式前36阶像差系数的关系,然后进行曲面拟合。当载物台放置待测反射镜时,通过找到光斑位置来依据拟合得到的曲面求解Zernike多项式的各项系数,组合各阶像差即可得到反射镜在该位置的回程误差。此方法针对在高精度测量时,回程误差不能调零的情况,具有结构简单、精度较高、实用性强的优点。
搜索关键词: 一种 标定 干涉 测量 中的 回程 误差 装置 方法
【主权项】:
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