[发明专利]分析装置及分析方法在审

专利信息
申请号: 202110308833.4 申请日: 2021-03-23
公开(公告)号: CN113820252A 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 山口亨;井原正博 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/02;G01N21/41;G01N21/49
代理公司: 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 代理人: 杨楷;毛立群
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及分析装置,具备:供粒子流动的流路、粒子图像解析装置、散射振幅测量装置、信息生成部。粒子图像解析装置包含:拍摄部,拍摄在流路中流动的粒子的图像;第1获取部,根据图像获取映现在图像中的粒子的尺寸。散射振幅测量装置包含:激光光源,对流路照射激光;光检测器,检测激光中透过流路的透射光与由粒子引起的散射光;第2获取部,根据透射光与散射光的干涉的时间变化获取粒子的复散射振幅。信息生成部使用获取到的尺寸与获取到的复散射振幅,生成包含粒子的复折射率的特性信息。
搜索关键词: 分析 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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