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- [发明专利]分析装置及分析方法-CN202110308833.4在审
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山口亨;井原正博
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株式会社岛津制作所
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2021-03-23
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2021-12-21
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G01N15/00
- 本发明涉及分析装置,具备：供粒子流动的流路、粒子图像解析装置、散射振幅测量装置、信息生成部。粒子图像解析装置包含：拍摄部，拍摄在流路中流动的粒子的图像；第1获取部，根据图像获取映现在图像中的粒子的尺寸。散射振幅测量装置包含：激光光源，对流路照射激光；光检测器，检测激光中透过流路的透射光与由粒子引起的散射光；第2获取部，根据透射光与散射光的干涉的时间变化获取粒子的复散射振幅。信息生成部使用获取到的尺寸与获取到的复散射振幅，生成包含粒子的复折射率的特性信息。
- 分析装置方法
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