[发明专利]分析装置及分析方法

权利要求书

1.一种分析装置，是分析粒子的特性的分析装置，其特征在于，具备：

供所述粒子流动的流路、

粒子图像解析装置、

散射振幅测量装置、

信息生成部，

所述粒子图像解析装置包含：

拍摄部，拍摄在所述流路流动的所述粒子的图像；

第1获取部，根据所述图像获取映现在所述图像的所述粒子的尺寸，

所述散射振幅测量装置包含：

光源，对所述流路照射激光；

光检测器，检测所述激光中透过所述流路的透射光与由在所述流路中流动的所述粒子引起的散射光；

第2获取部，根据所述透射光与所述散射光的干涉的时间变化获取在所述流路流动的所述粒子的复散射振幅，

所述信息生成部使用由所述第1获取部获取的尺寸与由所述第2获取部获取的复散射振幅，生成包含所述粒子的复折射率、所述粒子的复介电常数、以及由所述复折射率或所述复介电常数所推导的信息的至少1个的特性信息。

2.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述拍摄部拍摄所述流路的第1区域，

所述激光被照射至所述流路的第2区域，

所述信息生成部使用根据在第1时刻拍摄的所述图像获取到的尺寸、与根据包含第2时刻的时间段中所述干涉的时间变化获取到的复散射振幅，生成所述特性信息，

所述第1时刻与所述第2时刻的时间差、和所述粒子在所述第1区域与所述第2区域之间的移动时间的差小于预先确定的阈值。

3.如权利要求2所述的分析装置，其特征在于，

所述流路在所述第1区域与所述第2区域之间为直线状，并且具有恒定的截面积，

所述拍摄部的第1光轴与所述激光的第2光轴平行。

4.如权利要求3所述的分析装置，其特征在于，

所述第2获取部获取所述流路中在与所述流路的延伸方向及所述第2光轴正交的轴上的对象范围内流动的所述粒子的复散射振幅，

所述第1获取部获取在所述图像中与所述对象范围对应的部分所映现的所述粒子的尺寸。

5.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述第1获取部进一步根据所述图像获取映现在所述图像的所述粒子的形状；

所述信息生成部进一步使用由所述第1获取部获取到的形状来生成所述特性信息。

6.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述拍摄部拍摄所述流路的对象区域，

所述激光被照射至所述对象区域，

所述拍摄部的第1光轴与所述激光的第2光轴相交。

7.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述光检测器具有第1感光元件、第2感光元件、第3感光元件以及第4感光元件，

所述第1感光元件与所述第3感光元件配置在包含所述激光的光轴、且关于与所述流路的延伸方向正交的第1平面呈面对称的位置，

所述第2感光元件与所述第4感光元件配置在关于所述第1平面呈面对称的位置，

所述第1感光元件与所述第2感光元件配置在包含所述激光的光轴、且关于与所述流路的延伸方向平行的第2平面呈面对称的位置，

所述第3感光元件与所述第4感光元件配置在关于所述第2平面呈面对称的位置。

8.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

所述散射振幅测量装置进一步包含使所述激光聚光至所述流路的透镜。

9.一种分析方法，是分析粒子的特性的分析方法，其特征在于，具备：

拍摄在流路流动的所述粒子的图像的步骤；

根据所述图像获取映现在所述图像的所述粒子的尺寸的步骤；

对所述流路照射激光的步骤；

检测所述激光中透过所述流路的透射光与由在所述流路中流动的所述粒子引起的散射光的步骤；

根据所述透射光与所述散射光的干涉的时间变化获取在所述流路流动的所述粒子的复散射振幅的步骤；

使用获取到的尺寸与获取到的复散射振幅，生成包含所述粒子的复折射率、所述粒子的复介电常数、以及由所述复折射率或所述复介电常数所推导的信息的至少1个的特性信息的步骤。